动态光散射纳米粒度分析仪 Litesizer DLS

Litesizer DLS: 微粒世界的探索利器业界一流的粒度分析Litesizer DLS 具有自动角度选

作者：Anton Paar 发布

发布日期：2025-05-13 09:49

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内容详述

Litesizer DLS: 微粒世界的探索利器

业界一流的粒度分析

Litesizer DLS 具有自动角度选择功能，可确保每次都获得精确的结果，而我们的多角度粒度测量（MAPS）技术可提高粒度测量的分辨率-即使对于多分布样品也是如此。通过连续的透射率监测，系统可以实时检测颗粒的沉降和团聚，让您即时了解可靠、高质量的测量结果。

市场领先的Zeta电位测定

Litesizer DLS 独有的专利 cmPALS 技术和

Omega Cuvette 增强了Zeta 电位的测量能力，通过最大限度地减少电场梯度，提高稳定性和准确性。

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